离子切割

　　离子切割灵活装配您的系统

　　现在的科研实验室往往寻求快速简单的样品制备方法同时又不放弃高质量高标准要求。Leia EMTIC 3X三离子束切割仪的创新技术正为这一类有着高期望值的实验室提供解决方案，以实现你们的目标。根据应用需求，Leica EM TIC 3x可以由您装配用于标准类型样品制备，高通量样品制备以及特殊的热敏感型样品在低温下样品制备如聚合物。橡胶，甚至生物材料等)。样品可被真空冷东传输进入冷冻扫描电镜Cno-SEM为满足个性化应用需求，共提供五种可切换样品台： 旋转样品台 、三样品台、标准样品台、冷冻样品台、真空冷冻传输对接台。

　　可复制的结果

　　Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面，用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。

　　使用 Leica EM TIX 3X，您几乎可以在室温或冷冻条件下，对任何材料实现高品质的表面处理，尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。

　　离子切割与制样流程的兼容性

　　使用一款样品载台，样品可以从Leca EM 1XP中机械预制备、leca EM TIC 3x中离子束研磨，再到SEM中检测都保持原位。另外，Leca EN TDP可以用来制备环境敏感型样品例如将EM TX放置于手套箱中。这类预制备好的样品可以不更换样品载台，通过Leia EM VCI传输舱被直接传输进入带有VCT接口的离子研磨仪Leica EM TIC 3x中。经过离子東加工后，样品可以不暴露到空气环境中，再直接被转移进入后续步骤技术手段。例如进Aleca EMACE60O进行健膜，和/或SEM检测。

　　离子切割

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